Detección de defectos

  • a close up of a blue and yellow background

    Inspección visual automatizada para LED

    Inspección visual LED optimizada con IA Solvision presenta una herramienta de Segmentación de Instancias diseñada para identificar varios defectos de mini LED a través del procesamiento de imágenes.

  • A side release plastic bag buckle clip

    Inspección de clips de hebilla de plástico mediante IA

    SolVision utiliza IA para la inspección precisa y la detección de defectos en clips de hebilla de plástico, mejorando el control de calidad y la eficiencia de producción.

  • black and white labeled box

    Solución de inspección de IA para obleas semiconductoras

    Usando la solución de inspección AI de Solvision, se pueden localizar y marcar defectos minúsculos como rasguños finos en imágenes de muestra para entrenar el modelo de IA.

  • Detección de cortocircuitos en la soldadura SMT

    SMT es un proceso de soldadura crítico en la industria electrónica. Solvision detecta defectos en las PCB que se sabe que tienen numerosos componentes pequeños y complejos.

  • Inspección de las marcas de certificación de seguridad

    Inspección de Marcas de Certificación de Seguridad. La detección automatizada de marcas de certificación defectuosas por la IA de Solomon Solvision.

  • person holding tool during daytime

    Inspección visual de cordones de soldadura automotrices

    Impulsado por IA, el software de aprendizaje profundo Solvision entrena un modelo de IA simulando posibles defectos en la soldadura en condiciones de brillo aleatorias

  • pile of blue surgical masks

    Inspección de mascarillas quirúrgicas con IA

    SolVision utiliza tecnología de aprendizaje profundo para una inspección mejorada de mascarillas quirúrgicas, asegurando una detección precisa de defectos y un mejor control de calidad.

  • Inspección visual con IA de paneles de yeso

    El modelo de IA puede ser entrenado para detectar y localizar con precisión los defectos en el panel de yeso para mejorar la calidad del producto y el rendimiento de la producción.

  • a group of square objects

    Automatización de las inspecciones de obleas de semiconductores

    Los wafers F0 defectuosos también suelen tener defectos sutiles dispersos aleatoriamente en la superficie, y esto impide que los sistemas de AOI establezcan reglas para inspecciones eficientes.